一、光電測(cè)徑儀/CCD投影測(cè)徑儀

　　光電測(cè)徑儀/CCD投影測(cè)徑儀由于靠發(fā)光二極管經(jīng)過投影成像運(yùn)算的方法來測(cè)量，而且投影的平行光帶不太容易保證，再加上現(xiàn)在平行光管與CCD的技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在很多企業(yè)開始采用CCD成像法測(cè)量直徑，其光源采用波長較長的紅外光，抗干擾較強(qiáng)，由于少了許多機(jī)械件，所以設(shè)備較穩(wěn)定可靠，但CCD成像受相素的制約，在精度上不太容易保證，特別是大直徑的物體測(cè)量，但又不能太細(xì)，太細(xì)會(huì)有掃描測(cè)徑儀相同的問題。

二、激光掃描測(cè)徑儀

　　利用衍射掃描原理測(cè)量細(xì)線的直徑，而且據(jù)說都是引進(jìn)的德國的技術(shù)，此技術(shù)與前兩項(xiàng)剛好相反，只適用于測(cè)小直徑的細(xì)絲，而且越細(xì)越好，因?yàn)榇思夹g(shù)是利用衍射原理，理論只有當(dāng)波長與被測(cè)物相近或大于被測(cè)長物時(shí)衍射zui明顯。